Radiační poškození vzorků v nízkovoltové transmisní elektronové mikroskopii
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Práce je zaměřena na vliv radiačního poškození vzorků v nízkonapěťové transmisní elektronové mikroskopii. V práci se nachází obecný popis transmisních elektronových mikroskopů a jejich důležitých částí. Je zde popsán způsob poškození vzorků ozářených primárním svazkem elektronů, jak se připravují vzorky pro elektronovou mikroskopii a k jaké degradaci vzorků dochází z hlediska materiálu vzorku a časovému zatížení primárním elektronovým svazkem.
This thesis is focused on Radiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopy. In thesis is general description of transmission electron microscopy and their important parts. There is described how samples are damaged by primary electron beam and how samples for transmission electron microscopy are prepared and which degradation occurs from the point of view materials of sample and time dose of electrons from primary electron beam.
This thesis is focused on Radiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopy. In thesis is general description of transmission electron microscopy and their important parts. There is described how samples are damaged by primary electron beam and how samples for transmission electron microscopy are prepared and which degradation occurs from the point of view materials of sample and time dose of electrons from primary electron beam.
Description
Citation
VYKYDAL, V. Radiační poškození vzorků v nízkovoltové transmisní elektronové mikroskopii [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2019.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Biomedicínské inženýrství a bioinformatika
Comittee
doc. Ing. Radim Kolář, Ph.D. (předseda)
Ing. Jan Odstrčilík, Ph.D. (místopředseda)
Ing. Marina Ronzhina, Ph.D. (člen)
RNDr. Petr Fuchs, Ph.D. (člen)
Ing. Jiří Sekora (člen)
Date of acceptance
2019-06-05
Defence
Student prezentoval výsledky své práce a komise byla seznámena s posudky. Ing. Odstrčilík se zeptal na korekci nehomogenit. Doc. Kolář doplnil dotaz, zda se dá korekce odhadnout předem v závislosti na vlastnostech aparatury. Ing. Odstrčilík se zeptal, zda by práce šla použít pro stanovení bezpečných dávek pro různé vzorky. Ing. Ronzhina se zeptala zda metoda byla plně automatická, nebo bylo nutné některé kroky provádět ručně. Doc. Kolář se dotázal na časovou náročnost měření. Student obhájil diplomovou práci a odpověděl na otázky členů komise a oponenta.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení