Návrh vhodného etalonu délky pro nano-CT měřicí přístroj
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Diplomová práce se zabývá návrhem tří etalonů délky, které poslouží pro zajištění metrologické návaznosti mezi přístroji Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 a dalšími přístroji umístěnými na ÚVSSR VUT a CEITEC Brno. První část je zaměřena na teoretické seznámení se s pojmy úzce souvisejícími s problematikou zajišťování metrologické návaznosti. Kromě toho se tato část zabývá výpočetní tomografií a popisem jednotlivých přístrojů. V druhé části jsou řešeny návrhy, postup výroby a odzkoušení jednotlivých etalonů. Poslední část je věnována popisu zajištění kalibrace nejmenšího etalonu, tzv. Nano etalonu a výpočtu nejistoty měření jeho kalibrované délky. Ke konci práce jsou výstupy těchto činností zhodnoceny.
The diploma thesis deals with the design of three length standards, which will serve to ensure metrological traceability between Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 and other devices located at ÚVSSR BUT and CEITEC Brno. The first part of the thesis focuses on the theoretical acquaintance with concepts closely related to the issue of ensuring metrological traceability. In addition, this section deals with computed tomography and the description of individual devices. The second part of the thesis is devoted to design, production process and testing of individual standards. The last part describes the ensuring the calibration of the smallest standard, the so-called Nano standard and the calculation of the uncertainty of measuring its calibrated length. At the end of the thesis, the outputs of these activities are evaluated.
The diploma thesis deals with the design of three length standards, which will serve to ensure metrological traceability between Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 and other devices located at ÚVSSR BUT and CEITEC Brno. The first part of the thesis focuses on the theoretical acquaintance with concepts closely related to the issue of ensuring metrological traceability. In addition, this section deals with computed tomography and the description of individual devices. The second part of the thesis is devoted to design, production process and testing of individual standards. The last part describes the ensuring the calibration of the smallest standard, the so-called Nano standard and the calculation of the uncertainty of measuring its calibrated length. At the end of the thesis, the outputs of these activities are evaluated.
Description
Keywords
Nano etalon, nanometrologie, metrologická návaznost, akreditace, rentgenová výpočetní tomografie, nano-CT, Rigaku nano3DX, nano-CMM, SIOS NMM-1, CMM, Zeiss UPMC Carat 850, Airyho body, substituční metoda výpočtu nejistoty měření., Nano standard, nanometrology, metrological traceability, accreditation, X-ray computed tomography, nano-CT, Rigaku nano3DX, nano-CMM, SIOS NMM-1, CMM, Zeiss UPMC Carat 850, Airy points, substitution method for calculating measurement uncertainty.
Citation
KOŽIOL, M. Návrh vhodného etalonu délky pro nano-CT měřicí přístroj [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2020.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Kvalita, spolehlivost a bezpečnost
Comittee
doc. Ing. Róbert Jankových, CSc. (předseda)
doc. Dr. Ing. Daniel Prostredník, CSc. (místopředseda)
Ing. Jan Šrámek, Ph.D. (člen)
Ing. Michal Drlík, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Hana Pačaiová, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Milan Oravec, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2020-07-20
Defence
V úvodu prezentace student představil komponenty související s problematikou nano etalonů a popsal konstrukce nano, mikro a maxi etalonů. Následně student popisuje zajištění kalibrace a stanovení nejistoty měření rozteče rubínových kuliček či jejich průměru. Závěr prezentace je věnován zhodnocení výsledků práce.
Otázka oponenta č.1: --- Objasněte možnosti snižování nejistoty měření při kalibraci nano a mikro etalonů. --- Na tuto otázku odpovídá za pomocí 5ti podmínek, například volba přístroje, typu etalonu, okolní podmínky, volba správné metody či dodržení postupu nastavení před provedením kalibrace. Jednotlivé body jsou doplněny slovním komentářem. Zkušební komise odpověď doplňuje.
Otázky komise:
Které složky nejistoty byste snižoval v případě požadavku snížení celkové nejistoty. Student odpověděl s nápovědou komise
Jaký je vztah mezi spolehlivostí a kvalitou měřicího přístroje? Student označuje spolehlivost jako jednu z dílčích částí kvality přístroje.
Je možné využít Vámi navržený etalon pro tahané mikro a nanomagnetické dráty? Student zmiňuje, že je možné použít navržený etalon z hlediska délkové kalibrace.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení