Methods for topography artifacts compensation in scanning thermal microscopy
Loading...
Date
2015-08-01
ORCID
Advisor
Referee
Mark
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Elsevier
Altmetrics
Abstract
Thermal conductivity contrast images in scanning thermal microscopy (SThM) are often distorted by artifacts related to local sample topography. Three methods for numerically estimating and compensating for topographic artifacts are compared in this paper: a simple approach based on local sample geometry at the probe apex vicinity, a neural network analysis and 3D finite element modeling of the probe–sample interaction. A local topography and an estimated probe shape are used as source data for the calculation in all these techniques; the result is a map of false conductivity contrast signals generated only by sample topography. This map can be then used to remove the topography artifacts from measured data.
Data získaná při měření tepelné vodivosti pomocí skenovacího termálního mikroskopu jsou často zkreslena z důvodu drsnosti vzorku. V tomto článku jsou rozebrány tři metody pro numerickou kompenzaci takto vzniklých artefaktů: jednoduchý model založený na objemu materiálu v okolí hrotu, dále využití neuronové sítě a třetí metodou je simulace interakce hrotu a vzorku pomocí FEM. Topografie vzorku a tvar hrotu představují vstupní data pro všechny tři metody. Výsledkem výpočtu je mapování vlivu topografie na termální signál, což lze využít pro odstranění artefaktů z naměřených dat.
Data získaná při měření tepelné vodivosti pomocí skenovacího termálního mikroskopu jsou často zkreslena z důvodu drsnosti vzorku. V tomto článku jsou rozebrány tři metody pro numerickou kompenzaci takto vzniklých artefaktů: jednoduchý model založený na objemu materiálu v okolí hrotu, dále využití neuronové sítě a třetí metodou je simulace interakce hrotu a vzorku pomocí FEM. Topografie vzorku a tvar hrotu představují vstupní data pro všechny tři metody. Výsledkem výpočtu je mapování vlivu topografie na termální signál, což lze využít pro odstranění artefaktů z naměřených dat.
Description
Citation
Ultramicroscopy. 2015, vol. 155, issue 1, p. 55-61.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399115000959
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399115000959
Document type
Peer-reviewed
Document version
Published version
Date of access to the full text
Language of document
en
Study field
Comittee
Date of acceptance
Defence
Result of defence
Document licence
Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/