Pokročilé techniky SPM měření elektrických vlastností materiálů
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
B
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Tato bakalářská práce je zaměřena na návrh řešení techniky pro měření lokálních elektrických vlastností vzorku v kontaktním režimu mikroskopie atomárních sil. Rešeršní část popisuje nejvíce rozšířené techniky měření těchto elektrických vlastností spadajících do rastrovací sondové mikroskopie. K realizaci byla zvolena technika rastrovací odporová mikroskopie. Důležitou součástí této techniky jsou zesilovače proudu. Z tohoto důvodu jsou podrobně popsány operační zesilovače, jeho různá zapojení a následná implementace nového zesilovače na mikroskop. Zbylá část se věnuje popisu a přípravě vzorků, na kterých byla funkčnost zesilovače a techniky testována.
This bachelor thesis is concerned about development of local electric properties characterization technique of sample in contact mode of Atomic Force Microscopy. The research part describes the most expanded techniques of characterization of local electric properties using Scanning Probe Microscopy. For realization was chosen Scanning Spreading Resistance Microscopy. Important part of this technique is current amplifier. For that reason, operational amplifiers, circuits with them and implementation of new amplifier on microscop are described. Last chapter is dedicated to description of samples, which were used to test functionality of the amplifier and technique.
This bachelor thesis is concerned about development of local electric properties characterization technique of sample in contact mode of Atomic Force Microscopy. The research part describes the most expanded techniques of characterization of local electric properties using Scanning Probe Microscopy. For realization was chosen Scanning Spreading Resistance Microscopy. Important part of this technique is current amplifier. For that reason, operational amplifiers, circuits with them and implementation of new amplifier on microscop are described. Last chapter is dedicated to description of samples, which were used to test functionality of the amplifier and technique.
Description
Citation
KRAMÁŘ, J. Pokročilé techniky SPM měření elektrických vlastností materiálů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2022.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
bez specializace
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda)
prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda)
doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen)
doc. Mgr. Vlastimil Křápek, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Miroslav Bartošík, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen)
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen)
prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen)
doc. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen)
RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2022-06-15
Defence
Po otázkách oponenta bylo diskutováno
Závislost rezistivity na teplotě.
Student na otázku odpověděl.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení