Vliv korekčních činitelů na složky komplexní permitivity

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
E
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Předpokládaná práce se zabývá sledováním složek komplexní permitivity v kmitočtové oblasti při působení střídavého elektrického pole. Dále též činiteli, kteří ovlivňují výslednou přesnost měřených veličin. Předmětem experimentu je vysoko hustotní krystalický polystyren QUINN PS (tloušťky 2mm, 3mm a 6mm), u něhož podle druhu použitého elektrodového systému sledujeme vliv vzduchové mezery na rozhraní elektroda – materiál. Z experimentu je na závěr zpracován protokol o zkoušce podle normy ČSN IEC 250.
This work consider with monitoring components of complex permittivity at frequency section under the action of alternating electric field. Further factors, affecting the final accuracy of measured values. Object of this experiment is crystalline high-density polystyrene QUINN PS (thickness 2, 3 and 6 millimeters), at which according to the type of electrode system, follow the influence of air gap at the interface electrode - material. The experiment is finally finished with a test report according to standards IEC 250.
Description
Citation
HANGYA, J. Vliv korekčních činitelů na složky komplexní permitivity [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2010.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Mikroelektronika a technologie
Comittee
prof. Ing. Jiří Kazelle, CSc. (předseda) prof. Ing. Karel Bartušek, DrSc. (místopředseda) Ing. Roman Prokop, Ph.D. (člen) Ing. Zdenka Rozsívalová (člen) doc. Ing. Radek Polanský, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2010-06-15
Defence
Diplomant seznámil státní zkušební komisi s podstatnou částí práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO