SNOM sondy se speciálními vlastnostmi

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Tato bakalářská práce se zabývá skenovací mikroskopií v blízkém poli (SNOM). Pomocí SNOM je experimentálně měřeno blízké pole interference povrchových plazmonových polaritonů (PPP) na strukturách tvořených drážkami na kovové vrstvě a je diskutován vliv charakteristik měřicí sondy na výsledky měření. Vliv některých charakteristik je numericky simulován. Poznatky získané v předchozí práci jsou využity pro konstrukční návrh experimentální aparatury nazvané NanoGIS, která má sloužit pro přípravu nanostruktur.
This bachelor thesis deals with scanning near-field optical microscopy. With SNOM we examined experimentally the near field of the interference of surface plasmon polaritons (PPP) on plasmonic structures consisting of slits in a metal layer a we discuss the effect of probe characteristics on the measurement results.Effect of few characteristics is simulated numerically. Findings obtained in the previous experiments are used for the construction designing of an experimental device called NanoGIS, which should serve for the nanostructure manufacturing.
Description
Citation
SLABÝ, V. SNOM sondy se speciálními vlastnostmi [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2015.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2015-06-24
Defence
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO