Povrchová topografie plazmových polymerů nanesených na rovinných a vláknových substrátech zkoumaná pomocí mikroskopie atomární síly
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
B
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstract
Tato bakalářská práce se zabývá charakterizaci morfologie tenkých vrstev plazmových polymerů, které byly připraveny z monomeru tetravinylsilanu a naneseny na plošné křemíkové substráty a skleněná vlákna typu E. Způsobem přípravy tenkých vrstev byla chemická depozice z plynné fáze (PE CVD). K charakterizaci morfologie povrchu byla pouţita metoda mikroskopie atomárních sil (AFM), pro kterou byla zpracována literární rešerše v teoretické části této práce. Ze získaných dat byla posouzena závislost povrchové topografie ve vztahu k depozičním podmínkám a velikostí zkoumané plochy a rovněţ byly navrhnuty způsoby jejích interpretace pro účely následné statistické analýzy.
This bachelor thesis deals with the characterization of the morphology of thin films of plasma polymers, which were prepared from the monomer tetravinylsilane and deposited on planar silicon substrates and type E glass fibers. Plasma enhanced chemical vapor deposition (PE CVD) has been used as a method of thin films preparations. Characterization of the surface morphology was made by using atomic force microscopy (AFM), for which was prepared literature review at the theoretical part of this bachelor thesis. The collected data have been used for estimating dependence of surface topography in relation to the deposition conditions and the size of investigated area. Also have been suggested methods of the data interpretation for purposes of subsequent statistical analysis.
This bachelor thesis deals with the characterization of the morphology of thin films of plasma polymers, which were prepared from the monomer tetravinylsilane and deposited on planar silicon substrates and type E glass fibers. Plasma enhanced chemical vapor deposition (PE CVD) has been used as a method of thin films preparations. Characterization of the surface morphology was made by using atomic force microscopy (AFM), for which was prepared literature review at the theoretical part of this bachelor thesis. The collected data have been used for estimating dependence of surface topography in relation to the deposition conditions and the size of investigated area. Also have been suggested methods of the data interpretation for purposes of subsequent statistical analysis.
Description
Citation
KURAKIN, Y. Povrchová topografie plazmových polymerů nanesených na rovinných a vláknových substrátech zkoumaná pomocí mikroskopie atomární síly [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2016.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Chemie, technologie a vlastnosti materiálů
Comittee
prof. RNDr. Josef Jančář, CSc. (předseda)
prof. Ing. Ladislav Omelka, DrSc. (člen)
prof. Dr. Ing. Martin Palou (člen)
doc. RNDr. Jaroslav Petrůj, CSc. (člen)
prof. Ing. Petr Ptáček, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Tomáš Svěrák, CSc. (člen)
prof. Ing. Jaromír Havlica, DrSc. (člen)
Date of acceptance
2016-06-15
Defence
Byly předneseny teze bakalářské práce. Vystoupení bylo kultivované. Student zodpověděl na otázky oponenta a zaujal stanovisko k připomínkám. Odpověděl na otázky členů komise.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení