Testování úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Tato práce se zabývá testováním úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody. Návrhem programu pro měření teploty s pomocí senzoru typu RTD, který je součástí desky, pomocí termočlánku a vnějšího sensoru PT100. Kód je naprogramován za účelem optimalizace měřicího cyklu. Pomocí optimalizace lze minimalizovat spotřebu elektrické energie.
This thesis deal with testing of low power microcontroller with integrated analog circuits. It describes the program for measurement with RTD, which is a part of the printed circuit board, thermocouple and external PT100 sensor. The code is writen with an optimization of a measure circuit due to minimisation of the current consumption.
Description
Citation
KURZOV, K. Testování úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2016.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Mechatronika
Comittee
prof. Ing. Vítězslav Hájek, CSc. (předseda) doc. Ing. Stanislav Věchet, Ph.D. (místopředseda) doc. Dr. Ing. Kazimierz Peszynski (člen) doc. Ing. Zdeněk Hadaš, Ph.D. (člen) doc. Ing. Tomáš Profant, Ph.D. (člen) Ing. Lukáš Březina, Ph.D. (člen) Ing. Zdeněk Majer, Ph.D. (člen) doc. Ing. Pavel Vorel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Vladislav Singule, CSc. (člen)
Date of acceptance
2016-06-20
Defence
Student prezentoval výsledky své práce na dobré technické úrovni.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO