Mikroprogramem řízený RAM BIST

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Cílem práce je seznámit se s defekty polovodičových pamětí a algoritmy určenými pro je- jich detekci. Následně se práce zabývá návrhem a implementací BIST kontroléru pro test polovodičových pamětí s nízkými nároky na velikost výsledného digitálního bloku.
The goal of this work is to understand types of defects in semiconductor memories and algorithms for their testing. In the second part the work describes design and implementation of programmable BIST controller with small digital block size requirments.
Description
Citation
VYKYDAL, L. Mikroprogramem řízený RAM BIST [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2017.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Elektronika a sdělovací technika
Comittee
prof. Dr. Ing. Zdeněk Kolka (předseda) doc. Ing. Martin Slanina, Ph.D. (místopředseda) prof. Ing. Otakar Wilfert, CSc. (člen) Ing. Michal Kubíček, Ph.D. (člen) Ing. Dr. Techn. Vojtěch Derbek (člen) doc. Ing. Ján Šaliga, Ph.D. (člen) Ing. Josef Vochyán, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2017-06-06
Defence
Student prezentuje výsledky a postupy řešení své diplomové práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO