Detekce nánosu UV lepidla

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
B
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Tato diplomová práce se věnuje návrhu kontrolního kamerového systému pro detekci vad při nanášení UV luminiscenčního lepidla, spojujícího dno papírového pytle. Během práce byl vytvořen a otestován program pracující s průmyslovou kamerou Baumer VCXG-53C, implementující dvě kontrolní metody - vyhledání uživatelem předem defnované šablony lepidla pomocí vzájemné 2D korelace a měření plochy lepidla z binárně segmentovaného obrazu. Výsledkem práce je navržený kontrolní systém, který je připravený k nasazení ve zvolené zákaznické aplikaci.
This diploma thesis focuses on a design of camera control system used for detecting defects, appearing during a UV luminescent glue application on the bottom of a paper bag. As a part of this thesis, an application was developed, using Baumer VCXG-53C industrial camera, implementing two dierent control methods - 2D cross correlation image pattern matching based on previously user defined pattern and glue area size measuring based on binary segmented image. The result of this work is a fully developed control system, prepared to be put into operation at the customer’s production line.
Description
Citation
PAVELKA, R. Detekce nánosu UV lepidla [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2018.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Kybernetika, automatizace a měření
Comittee
doc. Ing. Miloš Železný, Ph.D. (předseda) prof. Ing. Pavel Václavek, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Petr Beneš, Ph.D. (člen) Ing. Radovan Holek, CSc. (člen) Ing. Peter Honec, Ph.D. (člen) Ing. Lukáš Kopečný, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2018-06-05
Defence
Student obhájil diplomovou práci.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO