Příprava a charakterizace tenkých vrstev MoS2

but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencecs
but.jazykčeština (Czech)
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorBartoš, Miroslavcs
dc.contributor.authorTomková, Renátacs
dc.contributor.refereeZahradníček, Radimcs
dc.date.accessioned2019-11-27T20:13:52Z
dc.date.available2019-11-27T20:13:52Z
dc.date.created2015cs
dc.description.abstractTato bakalářská práce pojednává o topologických izolátorech, které jsou popisovány pomocí kvantového spinového Hallova jevu, dále o polovodičích, kde je vysvětlena pásová struktura v polovodičích a podrobněji zmíněn unipolární tranzistor MOSFET. V práci jsou zmíněny především 2D materiály a to zejména MoS2. Téma se zaměřuje na jeho strukturu, elektrické vlastnosti, využití a přípravu pomocí mikromechanické exfoliace. V poslední kapitole této práce je popsána jak příprava struktur MoS2, tak jejich analýza. Strukturní vlastnosti tohoto materiálu byly měřeny metodou AFM a Ramanovou spektroskopií. V experimentální části jsou názorné fotografie MoS2 pořízené z optického mikroskopu a prostorové mapy struktury vytvořené metodou AFM.cs
dc.description.abstractThis thesis deals with topological insulators, which are described by the quantum spin Hall effect, as well as on semiconductors, where the band structure of semiconductors and more specifically mentioned unipolar transistor MOSFET is explained. There are also mentioned primarily 2D materials and in particular of MoS2. Topic focuses on its structure, the electric properties, the use and preparation by using micromechanical exfoliation. In the last chapter it is described how to prepare MoS2 structures and their analysis. Structural properties of this material were measured by the AFM and Raman spectroscopy. The experimental part there are illustrative photograph of MoS2 taken with an optical microscope and spatial structures created by AFM.en
dc.description.markDcs
dc.identifier.citationTOMKOVÁ, R. Příprava a charakterizace tenkých vrstev MoS2 [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2015.cs
dc.identifier.other84040cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/41207
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectMoS2cs
dc.subjectpolovodičecs
dc.subjecttopologické izolátorycs
dc.subject2D sturkturycs
dc.subjectexfoliacecs
dc.subjectRamanova spektroskopiecs
dc.subjectMoS2en
dc.subjectsemiconductorsen
dc.subjecttopological insulatorsen
dc.subject2D structuresen
dc.subjectexfoliationen
dc.subjectRaman spectroscopy.en
dc.titlePříprava a charakterizace tenkých vrstev MoS2cs
dc.title.alternativePreparation and characterization of MoS2 thin filmsen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2015-06-25cs
dcterms.modified2015-06-25-14:35:14cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid84040en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 10:06:53en
sync.item.modts2021.11.12 09:09:51en
thesis.disciplineFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
6.37 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_84040.html
Size:
8.6 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_84040.html
Collections