Studium tloušťky tenkých vrstev organických materiálů
| but.committee | prof. Ing. Miloslav Pekař, CSc. (předseda) prof. Ing. Michal Čeppan, CSc. (místopředseda) prof. RNDr. Marie Kaplanová, CSc. (člen) doc. Ing. Pavel Kovařík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Václav Prchal, CSc. (člen) prof. Ing. Michal Veselý, CSc. (člen) prof. Ing. Oldřich Zmeškal, CSc. (člen) | cs |
| but.defence | Diplomantka seznámila členy komise s obsahem své diplomové práce. Po přečtení posudků vedoucího a oponenta odpověděla na dotazy: doc. Pekař - tloušťka které vrstvy byla určována doc. Čeppan - jaké vrstvy lze určit | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Spotřební chemie | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Zmeškal, Oldřich | cs |
| dc.contributor.author | Hegerová, Lucie | cs |
| dc.contributor.referee | Veselý, Michal | cs |
| dc.date.accessioned | 2019-11-27T20:15:49Z | |
| dc.date.available | 2019-11-27T20:15:49Z | |
| dc.date.created | 2008 | cs |
| dc.description.abstract | Diplomová práce se zabývá stanovením tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev organických filmů s použitím obrazové analýzy. V teoretické části jsou popsány principy metod, které jsou používány k přípravě tenkých vrstev (rotační nanášení, inkoustový tisk, vakuové napařování), vlastnosti tenkých vrstev, způsoby zjišťování tloušťky a indexu lomu látek (metody váhové, metody elektrické, metoda založená na měření koeficientu absorpce světla, interferenční mikroskopie, elipsometrie) a také obrazová analýza (harmonická a waveletová analýza) Pro stanovení tloušťky a indexu lomu byl použit interferenční mikroskop Epival – Interpako (Carl Zeiss Jena) v kombinaci s digitálním fotoaparátem Nikon Coolpix 5400 a počítačem. Byly určeny tloušťky vrstev z interferenčních obrazců hran a rýh a to jak ze strany kovového kontaktu tak i ze strany podložního sklíčka. Ze získaných hodnot byly určovány indexy lomu tenkých vrstev. V závěru práce jsou diskutovány výsledky interferenčních obrazců fotografovaných po celé délce hliníkového kontaktu určeném pro měření elektrických vlastností struktur s DPP. Výsledkem jsou pak tloušťky jednotlivých vrstev struktury (indexy lomu). | cs |
| dc.description.abstract | The diploma thesis deals with the determination of thickness and refractive index of thin organic films using image analysis. In the theoretical part there are described principles of the methods, which are used to prepare the films (spin coating, inkjet printing, vapour deposition), the characteristics of thin films, ways of finding out the thickness and refractive index of substances (weight methods, electric methods, method based on measurement of absorption coefficient of light, interference microscopy, ellipsometry) and also image analysis (harmonic and wavelet analysis). Interference microscope Epival - Interpako (Carl Zeiss Jena), digital camera Nikon Coolpix 5400 and computer were used for the determination of thickness and refractive index. The thicknesses of layers were set on the basis of interference images of edges and grooves – both from the side of the metal contact and the side of underlying glass. The refractive indices of thin layers were then set using the recorded figures. In the final part of the thesis there are discussed the results of interference images photographed along the full length of the aluminium contact which are used for measuring electrical characteristics of DPP structures. The produces are thicknesses and refractive indices of individual layers. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | HEGEROVÁ, L. Studium tloušťky tenkých vrstev organických materiálů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2008. | cs |
| dc.identifier.other | 2453 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/11817 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | tenké vrstvy | cs |
| dc.subject | interferenční mikroskopie | cs |
| dc.subject | obrazová analýza | cs |
| dc.subject | index lomu | cs |
| dc.subject | tloušťka vrstev | cs |
| dc.subject | vlastnosti tenkých vrstev | cs |
| dc.subject | spin coating | cs |
| dc.subject | vakuové napařování | cs |
| dc.subject | inkoustový tisk | cs |
| dc.subject | elipsometrie | cs |
| dc.subject | thin layers | en |
| dc.subject | interference microscopy | en |
| dc.subject | image analysis | en |
| dc.subject | refractive index | en |
| dc.subject | thickness of the layer | en |
| dc.subject | the characteristics of thin films | en |
| dc.subject | spin coating | en |
| dc.subject | vapour deposition | en |
| dc.subject | inkjet printing | en |
| dc.subject | ellipsometry | en |
| dc.title | Studium tloušťky tenkých vrstev organických materiálů | cs |
| dc.title.alternative | Study of thin film organic materials thickness | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2008-06-10 | cs |
| dcterms.modified | 2008-09-13-10:45:02 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta chemická | cs |
| sync.item.dbid | 2453 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2021.11.12 23:05:28 | en |
| sync.item.modts | 2021.11.12 22:16:44 | en |
| thesis.discipline | Spotřební chemie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. Ústav fyzikální a spotřební chemie | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |