Aplikace fokusovaného iontového a elektronového svazku v nanotechnologiích

but.committeeprof. Ing. Jiří Švejcar, CSc. (předseda) doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (člen) Ing. Jaroslav Jiruše, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen)cs
but.defenceDDP se zabývá procesy přípravy mikro-a nanostruktur elektronovými a iontovými svazky a vlastnostmi mokrého leptání monokrystalického křemíku. Výslednými strukturami byla řada objektů: proužky, mřížky, šachovnicová pole, mezikruží, pole pyramid.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programFyzikální a materiálové inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorŠikola, Tomášcs
dc.contributor.authorŠamořil, Tomášcs
dc.contributor.refereeMikulík, Petrcs
dc.contributor.refereeJiruše, Jaroslavcs
dc.date.accessioned2018-10-21T18:00:22Z
dc.date.available2018-10-21T18:00:22Z
dc.date.created2016cs
dc.description.abstractSystémy pracující současně s fokusovanými elektronovými a iontovými svazky jsou v dnešní době velmi důležitými nástroji v oblasti mikro- a nanotechnologií. Kromě zobrazování a analýzy vzorků je lze rovněž využít k litografii, jejíž aplikací jsou připravovány struktury požadovaného tvaru a rozměrů v mikrometrovém až nanometrovém měřítku. Práce nejprve pojednává o jedné z litografických metod – depozici indukované fokusovaným elektronovým nebo iontovým svazkem, u níž je hledáno optimální nastavení podmínek expozice a studována kvalita deponovaných kovových struktur z hlediska tvaru a prvkového složení. Následně je věnována pozornost i dalším typům litografických metod (elektronová, iontová), které jsou aplikovány k přípravě leptacích masek pro následné selektivní mokré leptání monokrystalického křemíku. Kromě optimalizace tohoto procesu je studováno využití leptaného povrchu Si např. pro pozdější selektivní růst kovových materiálů. U leptaných, tvarově a rozměrově definovaných 2D, resp. 3D struktur je studium v některých případech zaměřeno i na jejich funkční vlastnosti.cs
dc.description.abstractNowadays, the systems that allow simultaneous employment of both focused electron and ion beams are very important tools in the field of micro- and nanotechnology. In addition to imaging and analysis, they can be used for lithography, which is applied for preparation of structures with required shapes and dimensions at the micrometer and nanometer scale. The first part of the thesis deals with one lithographic method – focused electron or ion beam induced deposition, for which a suitable adjustment of exposition parameters is searched and quality of deposited metal structures in terms of shape and elemental composition studied. Subsequently, attention is paid also to other types of lithographic methods (electron or ion beam lithography), which are applied in preparation of etching masks for the subsequent selective wet etching of silicon single crystals. In addition to optimization of mentioned techniques, the application of etched silicon surfaces for, e.g., selective growth of metal structures has been studied. The last part of the thesis is focused on functional properties of selected 2D or 3D structures.en
dc.description.markPcs
dc.identifier.citationŠAMOŘIL, T. Aplikace fokusovaného iontového a elektronového svazku v nanotechnologiích [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2016.cs
dc.identifier.other89444cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/51878
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectFokusovaný iontový svazekcs
dc.subjectgalliumcs
dc.subjectodprašovánícs
dc.subjectamorfizacecs
dc.subjectdepozice indukovaná fokusovaným elektronovým/iontovým svazkemcs
dc.subjectselektivní růstcs
dc.subjectmokré leptánícs
dc.subjecthydroxid draselnýcs
dc.subjectFIBcs
dc.subjectFEBIDcs
dc.subjectFIBIDcs
dc.subjectEBLcs
dc.subjectFocused ion beamen
dc.subjectgaliumen
dc.subjectmillingen
dc.subjectamorphizationen
dc.subjectfocused electron/ion beam induced depositionen
dc.subjectselective growthen
dc.subjectwet etchingen
dc.subjectpotassium hydroxideen
dc.subjectFIBen
dc.subjectFEBIDen
dc.subjectFIBIDen
dc.subjectEBLen
dc.titleAplikace fokusovaného iontového a elektronového svazku v nanotechnologiíchcs
dc.title.alternativeApplication onf the Focused Ion on Electron Beam in Nanotechnologiesen
dc.typeTextcs
dc.type.driverdoctoralThesisen
dc.type.evskpdizertační prácecs
dcterms.dateAccepted2016-06-29cs
dcterms.modified2016-06-30-12:52:26cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid89444en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 15:29:53en
sync.item.modts2021.11.12 14:33:13en
thesis.disciplineFyzikální a materiálové inženýrstvícs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelDoktorskýcs
thesis.namePh.D.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 5 of 5
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
9.83 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Oponent prace-Oponentura PhD Samoril 2016.pdf
Size:
198.44 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Oponent prace-Oponentura PhD Samoril 2016.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Oponent prace-Samoril_OponenturaPhDMikulik.pdf
Size:
104.08 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Oponent prace-Samoril_OponenturaPhDMikulik.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
thesis-1.pdf
Size:
2.82 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
thesis-1.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_89444.html
Size:
1.73 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_89444.html
Collections