but.committee	prof. RNDr. Pavel Tománek, CSc. (předseda) prof. RNDr. Vladimír Aubrecht, CSc. (člen) prof. Ing. RNDr. Josef Šikula, DrSc. (člen) doc. RNDr. Pavel Moravec, CSc. (člen) prof. Ing. Karel Hájek, CSc. (člen) Ing. Petr Jákl, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jaroslav Lelák, CSc. - oponent (člen) prof. RNDr. Zdeněk Chobola, CSc. - oponent (člen)	cs
but.defence	Předložená disertační práce se věnuje aktuálnímu tématu – studiu dielektrických vlastností tenkých vrstev tantalu a oxidu niobu vhodných pro elektrolytické kondenzátory. Doktorandka prezentovala současný stav problematiky dielektrické relaxační spektroskopie, cíle práce a zejména vlastní přínos ke studovanému tématu. Doktorandka zodpověděla v rozpravě řadu dotazů týkajících se navržené metodiky a směrů dalšího výzkumu kvalitních tenkých vrstev pro elektrolytické kondenzátory. Komise konstatovala, že obhajoba proběhla úspěšně, a že výsledky disertace by mohly být přínosné pro další rozvoj oboru.	cs
but.jazyk	angličtina (English)
but.program	Electrical Engineering and Communication	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Liedermann, Karel	en
dc.contributor.author	Abuetwirat, Inas Faisel	en
dc.contributor.referee	Chobola, Zdeněk	en
dc.contributor.referee	Lelák, Jaroslav	en
dc.date.accessioned	2018-10-21T18:02:41Z
dc.date.available	2018-10-21T18:02:41Z
dc.date.created	2014	cs
dc.description.abstract	Dielektrická relaxační spektroskopie je jednou z užitečných metod pro studium molekulární dynamiky materiálů. Díky nedávnému pokroku v přístrojové a měřicí technice je dnes možné získat dielektrické spektrum v širokém frekvenčním intervalu a pro velice rozdílné materiály. Cílem mé práce bylo studium dielektrických relaxačních spekter a vodivosti oxidů titanu, niobu, tantalu, lanthanu a hafnia pro katody pracující na principu studené emise. Cílem výzkumu bylo analyzovat frekvenční a teplotní chování těchto oxidů, včetně jejich vodivosti, v širokém frekvenčním a teplotním rozsahu, a pokusit se stanovit původ relaxačního mechanismu. Vzhledem k tomu, že původně zadaný rozsah oxidů byl dosti široký, soustředila se pozornost pouze na oxidy tantalu a niobu, rovněž s ohledem na jejich aplikace v elektrolytických kondenzátorech. Elektrické, tepelné a mechanické (při zpracování) vlastnosti oxidů tantalu a niobu jsou dnes již dobře prozkoumány. K dispozici je však jen málo poznatků o jejich dielektrických relaxačních mechanismech. Výsledky získané pro Ta2O5 ukazují existence relaxačního maxima, nacházejícího se v experimentálně dostupném teplotním a frekvenčním intervalu 187 K – 385 K a 1 Hz – 10 MHz. Frekvence ztrátového maxima se řídí Arrheniovým zákonem s aktivační energií 0.048 eV. Ve vodivostních spektrech vykazují tenké vrstvy Ta2O5 na nízkých frekvencích ustálenou hodnotu a při vysokých frekvencích monotónní nárůst, který závisí na teplotě. Pozorovanou vodivost lze popsat mocninnou funkcí s exponentem nepatrně větším než jedna (tzv. superlineární závislost). Výsledky získané pro Nb2O5 v podobné teplotní a frekvenční oblasti, 218 K – 373 K, 1 Hz – 1 MHz rovněž ukazují jedno relaxační maximum. Frekvence ztrátového maxima se opět řídí Arrheniovým zákonem s poněkud vyšší aktivační energií 0.055 eV. Niobové kondenzátory vykazují vodivostní mechanismus shodný s kondenzátory tantalovými.	en
dc.description.abstract	Dielectric relaxation spectroscopy is one of the useful methods in studying the molecular dynamics of materials. Owing to recent developments in instrumentation and advances in measurement technique, it is possible to obtain the dispersion of dielectric permittivity in a wide frequency range and for very different materials. The purpose of my work was to investigate dielectric relaxation spectra and conductivity of oxides of titanium, niobium, tantalum, lanthanum and hafnium for field emission cathodes. The objective of the research was to analyze the frequency and temperature behavior of these oxides, as well as their conductivity over a wide frequency and temperature range, and to attempt to determine the origin of the relaxation. As the original range of oxides has been very broad, focus was paid to tantalum (Ta) and niobium (Nb) oxides only, also with regard to their application in electrolytic capacitors. Electrical, thermal and mechanical (processing) properties of Ta and Nb oxides have already been well established. Little is known, however, about detailed mechanisms of their dielectric relaxation. The results acquired for Ta2O5 show a relaxation peak in the temperature and frequency range available, 187 K – 385 K, 1 Hz – 10 MHz. The loss peak frequency follows the Arrhenius law dependence with the activation energy of 0.048 eV. In conductivity spectra, Ta2O5 film exhibits a steady – state value at low frequencies and a monotonous increase at high frequencies that depends on temperature. The observed conductivity followed a slightly superlinear power law. The results acquired for Nb2O5 show a relaxation peak in a similar temperature and frequency range, 218 K – 373 K, 1 Hz – 1 MHz. The loss peak frequency follows the Arrhenius law dependence with the activation energy of 0.055 eV. For both films the relaxation peak approximately shifted toward higher temperatures with frequency (same activation energy). Niobium capacitor shows conductivity mechanism similar to tantalum capacitor.	cs
dc.description.mark	P	cs
dc.identifier.citation	ABUETWIRAT, I. Dielektrické vlastnosti tenkých vrstev oxidů niobu a tantalu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2014.	cs
dc.identifier.other	82472	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/36257
dc.language.iso	en	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	Dielektrická spektroskopie	en
dc.subject	dielektrická relaxace	en
dc.subject	dielektrická spektra	en
dc.subject	elektrická vodivost	en
dc.subject	oxid tantalu	en
dc.subject	oxid niobu.	en
dc.subject	Dielectric spectroscopy	cs
dc.subject	dielectric relaxation	cs
dc.subject	dielectric spectra	cs
dc.subject	electrical conductivity	cs
dc.subject	tantalum oxide	cs
dc.subject	niobium oxide.	cs
dc.title	Dielektrické vlastnosti tenkých vrstev oxidů niobu a tantalu	en
dc.title.alternative	Dielectric Properties of Thin Tantalum and Niobium Oxide Layers	cs
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	doctoralThesis	en
dc.type.evskp	dizertační práce	cs
dcterms.dateAccepted	2014-12-17	cs
dcterms.modified	2014-12-18-09:27:17	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií	cs
sync.item.dbid	82472	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2021.11.22 22:41:14	en
sync.item.modts	2021.11.22 21:49:36	en
thesis.discipline	Physical Electronics and Nanotechnology	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav fyziky	cs
thesis.level	Doktorský	cs
thesis.name	Ph.D.	cs

Dielektrické vlastnosti tenkých vrstev oxidů niobu a tantalu

Files

Original bundle

Collections