Sledování fyzikálních veličin v polovodičových materiálech

but.committeeprof. Ing. Jiří Kazelle, CSc. (předseda) doc. Ing. Radek Polanský, Ph.D. (místopředseda) Ing. Miroslav Zatloukal (člen) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jiří Maxa, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Jaká byla přesnost měření? Existuje konkrétní matematické vyjádření přesnosti Vašeho měření? S jakou přesností měříte, pokud výsledky interpretujete pomocí 4 platných cifer? Jaká je pohyblivost minoritních nosičů náboje v polovodiči typu N? Proč byla pro měření vybrána právě tato metoda?cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorRozsívalová, Zdenkacs
dc.contributor.authorJankulár, Tomášcs
dc.contributor.refereePolsterová, Helenacs
dc.date.accessioned2019-05-17T14:17:49Z
dc.date.available2019-05-17T14:17:49Z
dc.date.created2011cs
dc.description.abstractBakalářská práce se zabývá sledováním fyzikálních veličin v polovodičových materiálech. Experiment byl zaměřen na měření pohyblivosti minoritních nosičů proudu a měření konduktivity pro vzorek křemíku a germania.cs
dc.description.abstractThis thesis deals with the monitoring of physical parameters in semiconductor materials. The experiment was aimed at measuring the current minority carrier mobility and conductivity measurements for a sample of silicon and germanium.en
dc.description.markEcs
dc.identifier.citationJANKULÁR, T. Sledování fyzikálních veličin v polovodičových materiálech [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.cs
dc.identifier.other40995cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/1339
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectPolovodičcs
dc.subjectpolovodič typu Ncs
dc.subjectpolovodič typu Pcs
dc.subjectměřící metodycs
dc.subjectpohyblivostcs
dc.subjectkonduktivitacs
dc.subjectSemiconductoren
dc.subjectN-type semiconductoren
dc.subjectP-type semiconductoren
dc.subjectmeasurement methodsen
dc.subjectmobilityen
dc.subjectconductivityen
dc.titleSledování fyzikálních veličin v polovodičových materiálechcs
dc.title.alternativePhysical quantities monitoring in semiconductorsen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2011-06-13cs
dcterms.modified2011-07-15-10:45:39cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid40995en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 11:58:34en
sync.item.modts2021.11.12 10:55:10en
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologiecs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
1.31 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_40995.html
Size:
9.09 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_40995.html
Collections