Show simple item record

Scintillation SE detector for VP SEM

dc.contributor.advisorJirák, Josefcs
dc.contributor.authorRačanský, Davidcs
dc.date.accessioned2019-05-17T03:26:24Z
dc.date.available2019-05-17T03:26:24Z
dc.date.created2011cs
dc.identifier.citationRAČANSKÝ, D. Scintilační detektor sekundárních elektronů pro VP SEM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.cs
dc.identifier.other41105cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/8165
dc.description.abstractV první části této práce je uvedeno teoretické seznámení se základy rastrovací elektronové mikroskopie, pracující v oblastí vyšších tlaků, neboli VP SEM, včetně detekce sekundárních elektronů (SE) s využitím scintilačního detektoru. Praktická část je zaměřena na predikci, proměření a následném stanovení optimálního nastavení pracovních podmínek ve vakuovém systému elektrod scintilačního detektoru (SD), s důrazem na konfigurační nastavení průměrů otvorů v clonkách C1 a C2. Druhým úkolem bylo ověřit vliv změny pracovní vzdálenosti mezi vzorkem a detektorem a následně doporučit optimální nastavení pro další práci.cs
dc.description.abstractFirst part of this thesis is a theoretical essay which deals with the basics of the variable pressure scanning electron microscope, includes detection of secondary electrons with a view to a scintillation detector. The first applied part of the thesis is focused on prediction, measuring and setting-up optional working parley in vacuum electrodes scintillation detector system, with a stress small diameter hole in screenings C1 and C2. Second applied part was verify a change of working distance between sample and detector in consequence to optional solution for another work.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectRastrovací elektronový mikroskop pracující při vyšším tlaku v komoře vzorkucs
dc.subjectprimární elektrony (PE)cs
dc.subjectsekundární elektrony (SE)cs
dc.subjectzpětně odražené elektrony (BSE)cs
dc.subjectscintilační detektor SE pro VP SEMcs
dc.subjectEverhart-Thornley detektorcs
dc.subjectionizační detektor.cs
dc.subjectVarious pressure scanning electron microscope VP SEMen
dc.subjectprimary electron beam (PE)en
dc.subjectscintillation detector (SD)en
dc.subjectsecondary electrons (SE).en
dc.titleScintilační detektor sekundárních elektronů pro VP SEMcs
dc.title.alternativeScintillation SE detector for VP SEMen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2011-06-08cs
dcterms.modified2011-07-15-10:45:11cs
thesis.disciplineElektrotechnická výroba a managementcs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologiecs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
sync.item.dbid41105en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.04.01 08:30:28en
sync.item.modts2020.04.01 03:45:58en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.contributor.refereeČudek, Pavelcs
dc.description.markBcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
but.committeeprof. Ing. Jiří Vondrák, DrSc. (předseda) doc. Ing. Jiří Vaněk, Ph.D. (místopředseda) prof. Ing. Mária Režňáková, CSc. (člen) Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen) doc. Ing. Marie Sedlaříková, CSc. (člen)cs
but.defenceDiplomant seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své diplomové práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Co tato práce přináší nového? Existují typické ideální hodnoty pro určité tlaky? V případě použití velkého průměru clonky, není problém s udržitelností vakua v detektoru?cs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record