but.committee	prof. Ing. Zdeněk Kolíbal, CSc. (předseda) Ing. Ondřej Číp, Ph.D. (člen) doc. Ing. Miroslav Tykal, CSc. (člen) doc. Ing. Petr Blecha, Ph.D. (člen) prof. Dr. Ing. Jiří Marek, Ph.D., DBA (člen) prof. Ing. Hana Pačaiová, Ph.D. (člen) Dr. Ing. Rostislav Suchánek (člen) doc. RNDr. Jiří Tesař, Ph.D. (člen)	cs
but.defence	Téma DDP Ing. J. Šrámka pokládá zkušební komise i oponenti za vysoce aktuální, neboť dosavadní postupy stanovení nejistot měření tak přesných měřících přístrojů, jakými jsou tříosé měřící přístroje s interferometrickým referenčním systémem nejsou dosud dostatečně komplexní. V tomto směru lze hodnotit vědeckou úroveň práce jako optimální. Stanovený cíl práce autor bezezbytku splnil. Praktickým výstupem je vytvoření podkladů pro vypracování kalibračního postupu, použitelného v rámci akreditované kalibrační laboratoře dle příslušných norem a interních dokumentů, použitelných v kreditované kalibrační laboratoři ČMI v Brně. Hlavní myšlenky práce byly autorem publikovány v časopisech a na konferencích, a závěr práce je připraven do tisku v MM Science Journal 2019.	cs
but.jazyk	čeština (Czech)
but.program	Stroje a zařízení	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Jankových, Róbert	cs
dc.contributor.author	Šrámek, Jan	cs
dc.contributor.referee	Číp, Ondřej	cs
dc.contributor.referee	Tykal, Miroslav	cs
dc.date.accessioned	2019-12-10T11:57:23Z
dc.date.available	2019-12-10T11:57:23Z
dc.date.created	2019	cs
dc.description.abstract	Předkládaná disertační práce se zabývá měřením velmi malých rozměrů v nanometrologii pomocí dotykové nano-sondy, která je součástí třísouřadnicového měřicího stroje. V práci je prezentován nově vypracovaný přístup k problematice hodnocení přesnosti měření v oblasti přesného měření délky. Cílem práce je rozšíření možností měření prováděných na popisovaném přístroji a vytvoření návrhu postupu měření malých součástí včetně stanovení přesnosti měření tohoto přístroje při jeho použití v nanometrologii. Práce prezentuje nově vytvořený postup výpočtu nejistoty měření, který byl základní součástí stanovení přesnosti měření přesného třísouřadnicového měřicího stroje (dále jen nano-CMM). V první části disertační práce je uvedena analýza současného stavu v oblasti vyhodnocování přesnosti měření při realizaci přesných měření délky. Jsou zde definovány a popsány jednotlivé metody používané pro stanovení přesnosti měření nano-CMM. Je zde kladen důraz zejména na aparát stanovení nejistoty měření, kdy je čerpáno z autorových zkušeností z praxe metrologa pracujícího v laboratoři Oddělení Primární nanometrologie a technické délky Českého metrologického institutu v Brně (dále je ČMI Brno). Druhá část disertační práce se zaměřuje na vlastní problematiku stanovení přesnosti délkových měření v nanometrologii s důrazem na provedení souboru měření za dodržení podmínek reprodukovatelnosti a opakovatelnosti. Je zde rovněž popsán a vyzkoušen konkrétní simulační proces, kdy se pomocí metody Monte Carlo provádí simulaci měřicího systému nano-CMM za účelem doplnění nově vytvořeného aparátu pro stanovení nejistoty měření dotykovou nano-sondou na tomto přístroji. Podstatnou součástí této části disertační práce je podrobné vyhodnocení výsledků měření z provedených experimentů za dodržení podmínek opakovatelnosti a reprodukovatelnosti a zejména potřeby stanovení nejistoty měření nano-CMM. Nejistota měření je v disertační práci vyjádřena pro kvantifikaci přesnosti měření tohoto přístroje. Závěr práce shrnuje získané poznatky v oblasti provedeného vědeckého výzkumu včetně jejich vyhodnocení v rámci zvolené metodiky pro stanovení přesnosti měření v nanometrologii. Naznačuje budoucí postup možný v oblasti výzkumu i praktického použití v oblasti metrologické návaznosti a provádění vysoce přesných měření pro zákazníky. Zabývá se i možností využití dalších snímacích systémů použitelných na zkoumaném nano-CMM.	cs
dc.description.abstract	The presented doctoral thesis deals with measurements of extremely small sizes in nanometrology using a touch probe, which constitutes a part of a three-coordinate measuring system. It addresses a newly developed method of exact measurements in nanometrology by touch probes. The aim of this work was to expand the measurement options of this device and design a methodology proposal for the measurement of small parts, including the determination of accuracy of measurement of this device when used in nanometrology. The work includes the new methodology for the calculation of uncertainty of measurement, which constitutes a keystone in determining the accuracy of measurement of a accuracy three coordinate measuring system (hereinafter only nano-CMM). The first part of the doctoral thesis analyzes the present situation in the area of evaluation of accuracy of measurement in very accurate length measurements. It defines and describes individual methods implemented in the determination of accuracy of measurement on the instrument nano-CMM. A great emphasis is placed on the methodology of the measurement uncertainty, which draws from the author’s experience as a metrologist working in the laboratories of the Department of Primary nanometrology and technical length, Czech Metrology Institute Brno (hereinafter only CMI Brno). The second part of the doctoral thesis focuses on the determination of accuracy of length measurement in nanometrology, using a large set of measurements that were carried out under the reproducibility and repeatability conditions. There is also described and tested a model procedure utilizing the Monte Carlo method to simulate the measuring system nano-CMM in order to extent the newly created methodology of the measurement of uncertainty using a touch probe on the instrument nano-CMM. A substantial part of this doctoral thesis provides a detailed evaluation of results obtained from experiments that were executed under the repeatability and reproducibility conditions, especially for the purposes of the determination of the uncertainty of measurement. In this doctoral thesis, the uncertainty of measurement is chosen to quantify the accuracy of measurement of the instrument nano-CMM. The final part of this thesis summarizes the knowledge obtained during the scientific research and provides its evaluation. For the methodology used to determine the accuracy of measurement in nanometrology, it also outlines the future development in the area of scientific research, including the practical use in metrological traceability and extremely accurate measurements for customers. Furthermore, it deals with the possible use of other scanning systems compatible with the instrument nano-CMM.	en
dc.description.mark	P	cs
dc.identifier.citation	ŠRÁMEK, J. Stanovení přesnosti měření v nanometrologii [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019.	cs
dc.identifier.other	122556	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/184092
dc.language.iso	cs	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	Nanometrologie	cs
dc.subject	měření délky	cs
dc.subject	rubínová kulička	cs
dc.subject	měřicí přístroj	cs
dc.subject	přesnost měření	cs
dc.subject	nejistota měření	cs
dc.subject	opakovatelnost měření	cs
dc.subject	reprodukovatelnost měření substituční metoda	cs
dc.subject	multipoziční metoda	cs
dc.subject	metoda Monte Carlo.	cs
dc.subject	Nanometrology	en
dc.subject	length measurement	en
dc.subject	ruby ball	en
dc.subject	measuring instrument	en
dc.subject	accuracy of measurement	en
dc.subject	uncertainty of measurement	en
dc.subject	repeatbility of measurement	en
dc.subject	reproducebility of measurement	en
dc.subject	substition method	en
dc.subject	multiposition method	en
dc.subject	Monte Carlo method.	en
dc.title	Stanovení přesnosti měření v nanometrologii	cs
dc.title.alternative	Determination Accuracy of Measurement in Nanometrology	en
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	doctoralThesis	en
dc.type.evskp	dizertační práce	cs
dcterms.dateAccepted	2019-11-13	cs
dcterms.modified	2019-12-10-09:16:38	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta strojního inženýrství	cs
sync.item.dbid	122556	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2021.11.23 00:20:12	en
sync.item.modts	2021.11.22 23:17:50	en
thesis.discipline	Konstrukční a procesní inženýrství	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav výrobních strojů, systémů a robotiky	cs
thesis.level	Doktorský	cs
thesis.name	Ph.D.	cs

Stanovení přesnosti měření v nanometrologii

Files

Original bundle

Collections