Měření lokální elektrické vodivosti v poklepovém režimu AFM

but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen)cs
but.defenceByly zodpovězeny otázky oponenta.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorPavera, Michalcs
dc.contributor.authorDao, Radekcs
dc.contributor.refereeKonečný, Martincs
dc.date.accessioned2019-04-03T22:33:35Z
dc.date.available2019-04-03T22:33:35Z
dc.date.created2018cs
dc.description.abstractTato bakalářská práce je zaměřena na vývoj sondy pro měření lokální elektrické vodivosti v poklepovém režimu mikroskopie atomárních sil. Teoretická část práce podává stručný přehled rastrovací sondové mikroskopie a jejích mnohých měřicích technik, především pak vodivostní mikroskopie atomárních sil. Tato část také popisuje měřicí režim, v němž navržená sonda pracuje. Na závěr je zde představena křemenná ladička tvořící základ sondy. Praktická část sleduje postupný vývoj sondy jako takové a zahrnuje kapitolu věnovanou výrobě velmi ostrých vodivých hrotů potřebných pro elektrická měření. Závěr praktické části je věnován výrobě testovacích vzorků, na kterých byla prokázána funkčnost sondy, a samotnému měření lokální elektrické vodivosti.cs
dc.description.abstractThis bachelor thesis is concerned about the development of a probe for local electrical conductivity measurements in tapping mode Atomic Force Microscopy. The teoretical part gives a short overview of Scanning Probe Microscopy techniques, with the focus being on Conductivity Atomic Force Microscopy. Furthermore, the measuring regime in which the probe operates is described here, as well as the basic component of the probe, the quartz tuning fork. The experimental part follows the iterative development process, and contains a chapter dedicated to making of very sharp tips. The final chapters describe the preparation of test samples, which were used to prove the functionality of the probe and the measurement of local electrical conductivity itself.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationDAO, R. Měření lokální elektrické vodivosti v poklepovém režimu AFM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2018.cs
dc.identifier.other109651cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/83729
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectSPMcs
dc.subjectAFMcs
dc.subjectCAFMcs
dc.subjecthrotcs
dc.subjectkřemenná ladičkacs
dc.subjectleptánícs
dc.subjectvodivostcs
dc.subjectSPMen
dc.subjectAFMen
dc.subjectCAFMen
dc.subjecttipen
dc.subjectquartz tuning forken
dc.subjectetchingen
dc.subjectconductivityen
dc.titleMěření lokální elektrické vodivosti v poklepovém režimu AFMcs
dc.title.alternativeLocal electrical conductivity measurements in AFM tapping modeen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2018-06-22cs
dcterms.modified2018-06-25-06:47:55cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid109651en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 17:10:36en
sync.item.modts2021.11.12 16:42:37en
thesis.disciplineFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
7.31 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_109651.html
Size:
9.72 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_109651.html
Collections