Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů

Simple item page
but.committeedoc. Ing. Jiří Háze, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Roman Šotner, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. František Urban, CSc. (člen) Ing. Alexandr Knápek, Ph.D. (člen) prof. Ing. et Ing. Fabian Khateb, Ph.D. et Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent seznámil státní zkušební komisi s řešením své diplomové práce a zodpověděl na otázky oponenta. Otázky komise: Můžete mi namalovat schématickou značku (EU) rezistoru a země? Předseda vyčítá formální záležitosti návrhu dle schématických značek neodpovídající uvedených v práci pro ČR (EU). Jakým způsobem se značí multiplexor? Na prezentaci se značení neschoduje ke správnému značení. Dále se komise ptala na obvod z kapitoly 3.1. a bližší informace při různých změnách parametrů. - Student odpovídal na otázky komise.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorŠťáva, Martincs
dc.contributor.authorTománek, Jakubcs
dc.contributor.refereeDvořák, Vojtěchcs
dc.date.accessioned2019-05-17T04:12:39Z
dc.date.available2019-05-17T04:12:39Z
dc.date.created2017cs
dc.description.abstractPráce prozkoumává možnosti snížení počtu potřebných vývodů pro testovací rozhraní zákaznických integrovaných obvodů (ASIC). V první části práce jsou popsána existující řešení a shrnuty principy, které je možné za tímto účelem využít. V druhé části práce konkrétní řešení čtyřvodičové, třívodičové, dvouvodičové, jednovodičové a nulavodičové rozhraní. Na závěr jsou shrnuty výhody a nevýhody jednotlivých přístupů pro řešení problematiky a navržených řešení.cs
dc.description.abstractThis study explores the possibilities for reducing the number of pins needed for scan mode interface. In the first part of this paper the existing solutions and methods that are usable for this purpose are described. Specific four pin, three pin, two pin, one pin and zero pin interfaces are designed in second part. Advantages and disadvantages of existing solutions and methods as well as designed and proposed interface are summarized in the conclusion.en
dc.description.markDcs
dc.identifier.citationTOMÁNEK, J. Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2017.cs
dc.identifier.other102961cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/66035
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectSkenovací řetězeccs
dc.subjectvložené deterministické testovánícs
dc.subjectkontrolér pro testování s nízkým množstvím vývodůcs
dc.subjecttrojúrovňová logikacs
dc.subjectscan módcs
dc.subjecttestovatelný návrhcs
dc.subjectScan chainen
dc.subjectEmbedded deterministic testingen
dc.subjectLow Pin Count Test (LPCT) controlleren
dc.subjectthree-state logicen
dc.subjectscan moden
dc.subjectDesign for Testability (DFT)en
dc.titleTestovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodůcs
dc.title.alternativeA Test Interface for Integrated Circuits with the Small Number of Pinsen
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2017-06-07cs
dcterms.modified2017-06-08-15:30:33cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid102961en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 22:13:32en
sync.item.modts2021.11.12 21:33:14en
thesis.disciplineMikroelektronikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektronikycs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 4 of 4
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
1.93 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
appendix-2.doc
Size:
30 KB
Format:
Unknown data format
Description:
appendix-2.doc
Download
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.rar
Size:
13.62 KB
Format:
Unknown data format
Description:
appendix-1.rar
Download
Thumbnail Image
Name:
review_102961.html
Size:
9.99 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_102961.html
Download
Collections
2017