Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
D
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Práce prozkoumává možnosti snížení počtu potřebných vývodů pro testovací rozhraní zákaznických integrovaných obvodů (ASIC). V první části práce jsou popsána existující řešení a shrnuty principy, které je možné za tímto účelem využít. V druhé části práce konkrétní řešení čtyřvodičové, třívodičové, dvouvodičové, jednovodičové a nulavodičové rozhraní. Na závěr jsou shrnuty výhody a nevýhody jednotlivých přístupů pro řešení problematiky a navržených řešení.
This study explores the possibilities for reducing the number of pins needed for scan mode interface. In the first part of this paper the existing solutions and methods that are usable for this purpose are described. Specific four pin, three pin, two pin, one pin and zero pin interfaces are designed in second part. Advantages and disadvantages of existing solutions and methods as well as designed and proposed interface are summarized in the conclusion.
This study explores the possibilities for reducing the number of pins needed for scan mode interface. In the first part of this paper the existing solutions and methods that are usable for this purpose are described. Specific four pin, three pin, two pin, one pin and zero pin interfaces are designed in second part. Advantages and disadvantages of existing solutions and methods as well as designed and proposed interface are summarized in the conclusion.
Description
Keywords
Citation
TOMÁNEK, J. Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2017.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Mikroelektronika
Comittee
doc. Ing. Jiří Háze, Ph.D. (předseda)
doc. Ing. Roman Šotner, Ph.D. (místopředseda)
doc. Ing. František Urban, CSc. (člen)
Ing. Alexandr Knápek, Ph.D. (člen)
prof. Ing. et Ing. Fabian Khateb, Ph.D. et Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2017-06-07
Defence
Student seznámil státní zkušební komisi s řešením své diplomové práce a zodpověděl na otázky oponenta.
Otázky komise:
Můžete mi namalovat schématickou značku (EU) rezistoru a země? Předseda vyčítá formální záležitosti návrhu dle schématických značek neodpovídající uvedených v práci pro ČR (EU).
Jakým způsobem se značí multiplexor? Na prezentaci se značení neschoduje ke správnému značení.
Dále se komise ptala na obvod z kapitoly 3.1. a bližší informace při různých změnách parametrů.
- Student odpovídal na otázky komise.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení