but.committee	prof. RNDr. Stanislav Nešpůrek, DrSc. (předseda) prof. RNDr. Vratislav Kapička, DrSc. (člen) prof. Ing. Jaromír Havlica, DrSc. (člen) prof. Ing. Michal Veselý, CSc. (člen) prof. RNDr. Vladimír Čech, Ph.D., školitel (člen) RNDr. Jan Mistrík, Ph.D., oponent (člen) doc. Ing. Ota Salyk, CSc., oponent (člen)	cs
but.defence	Předseda komise představil doktorandku a poté jí předal slovo. Byla přednesena powerpointová prezentace dizertační práce, která trvala cca 30 minut. Oponenti přečetli posudky, oba kladné a Ing. Kontárová zodpověděla dotazy v nich obsažené. Následně se rozpoutala plodná diskuze, i z ní vzešlo několik dotazů, doktorandka na všechny odpověděla velmi uspokojivým způsobem.	cs
but.jazyk	angličtina (English)
but.program	Chemie, technologie a vlastnosti materiálů	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Čech, Vladimír	en
dc.contributor.author	Kontárová, Soňa	en
dc.contributor.referee	Salyk, Ota	en
dc.contributor.referee	Mistrík, Jan	en
dc.date.accessioned	2018-10-21T22:44:58Z
dc.date.available	2018-10-21T22:44:58Z
dc.date.created	2011	cs
dc.description.abstract	Tato studie je zaměřena na základní výzkum tenkých vrstev plazmových polymerů a vliv depozičních podmínek na strukturu a vlastnosti jednotlivých vrstev a multivrstev připravených pomocí metody PE CVD. Jednotlivé vrstvy a multivrstvy a-SiC:H byly deponovány na křemíkové substráty z monomeru tetravinylsilanu (TVS) při různých výkonech v kontinuálním a pulzním režimu. Vrstvy byly rozsáhle zkoumány pomocí spektroskopické elipsometrie, nanoindentace, mikroskopie atomárních sil (AFM), rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS), spektroskopie Rutherfordova zpětného rozptylu (RBS), rentgenové reflektivity, Fourierovy transformační infračervené spektroskopie (FTIR) a měření kontaktního úhlu, pro zjištění jejich optických, mechanických a chemických vlastností. Byl zkoumán a prokázán vliv depozičních podmínek na fyzikálně-chemické vlastnosti pp-TVS vrstev. Jednotlivé vrstvy byly v rámci po-depoziční úpravy vystaveny UV záření a byl zkoumán účinek stárnutí a vliv UV záření na jejich fyzikální a chemické vlastnosti. Multivrstevnaté struktury (plazmaticky polymerizované 2-vrstvy a 10-ti-vrstvy) s tloušťkou jednotlivých vrstev od 0,5 µm do 25 nm byly úspěšně deponovány a charakterizovány pomocí elipsometrické spektroskopie. Na základě získaných poznatků je možné připravit materiály s vlastnostmi upravenými podle požadavků pro využití v nanokompozitních aplikacích a optických zařízeních.	en
dc.description.abstract	This study is aimed at the basic research of plasma polymer films and an influence of deposition conditions on structure and properties of single-layer films and multilayers prepared by PE CVD method. Single layer and multilayered a-SiC:H films were deposited on silicon wafers from tetravinylsilane monomer (TVS) at different powers in continual and pulse regimes. The films were investigated extensively by spectroscopic ellipsometry, nanoindentation, atomic force microscopy (AFM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), X-ray reflectivity, Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) and contact angle measurements to observe their optical, mechanical and chemical properties. The influence of the deposition condition on the physicochemical properties of pp-TVS films was revealed and quantified. Single layers were also exposed to UV light as post-deposition treatment to investigate aging effects and the influence of UV irradiation on their physical and chemical properties. Multilayered structures (bi-layered and 10-layered plasma polymerized films) of individual layer thickness down to 25 nm were successfully deposited and characterized by ellipsometric spectroscopy. Materials with tailored properties can be developed for nanocomposite applications and optical devices.	cs
dc.description.mark	P	cs
dc.identifier.citation	KONTÁROVÁ, S. Nanovrstevnaté kompozity [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2011.	cs
dc.identifier.other	36934	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/15528
dc.language.iso	en	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	plazmová polymerizace	en
dc.subject	multivrstvy	en
dc.subject	tetravinylsilan	en
dc.subject	tenké vrstvy	en
dc.subject	ellipsometrie	en
dc.subject	plasma polymerization	cs
dc.subject	multilayers	cs
dc.subject	tetravinylsilane	cs
dc.subject	thin films	cs
dc.subject	ellipsometry	cs
dc.title	Nanovrstevnaté kompozity	en
dc.title.alternative	Nanolayered Composites	cs
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	doctoralThesis	en
dc.type.evskp	dizertační práce	cs
dcterms.dateAccepted	2011-03-24	cs
dcterms.modified	2011-03-28-16:53:30	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta chemická	cs
sync.item.dbid	36934	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2021.11.12 16:23:38	en
sync.item.modts	2021.11.12 15:44:50	en
thesis.discipline	Chemie, technologie a vlastnosti materiálů	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. Ústav chemie materiálů	cs
thesis.level	Doktorský	cs
thesis.name	Ph.D.	cs

Nanovrstevnaté kompozity

Files

Original bundle

Collections